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CINNO Research工业资讯,据了解,韩国首要电子厂商本年初初次订货了AFM(原子显微镜)设备,用于可穿戴设备的LEDoS(LED on silicon)开发。
AFM是一种可分析到纳米级的丈量技能。AFM设备以往用来检测大尺度面板的样品,估计本年起也能为加速韩国Micro Display的开发做出奉献。
依据韩媒Zdnet Korea报导,据业界4月23日音讯,韩国首要电子厂商为开发OELDiS,方案本年下半年引入AFM设备。
OLEDoS是继OLED之后的新一代显现,被备受瞩目的Micro Display(微型显现)的品种之一。Micro Display是指在1英寸(2.54厘米)左右的小尺度上,具有数千PPI(每英寸像素数)等级的高像素密度的超高分辨率显现的总称。
OLEDoS的共同之处在于,它选用无机物发光二极管(LED)蒸镀在硅基板上,而非传统的玻璃基板。硅基板相较于玻璃基板,其电路中的电子移动速度更快,因而有助于进步面板的响应速度,完结更为明晰细腻的画质。
但是,跟着基板资料的改动以及像素密度的不断的进步,OLEDoS的开发难度也相应增大。现在,除了良品率办理的问题外,可穿戴设备所要求的高亮度面板完结也面临着许多应战。
为了应对这些应战,韩国的首要电子厂商在本年初纷繁订货了AFM设备,并方案将其装置在OLEDoS面板的研制产线上。这一行动是对AR(增强实际)、XR(扩展实际)等可穿戴设备用面板开发的重要出资。估计该设备将在本年下半年中完结装置。
AFM设备以其共同的丈量方法锋芒毕露,其探针能够以原子为单位挨近样品外表,并经过与外表之间的相互作用来准确丈量样品。与传统的电子显微镜(SEM)比较,AFM能够在必定程度上完结数纳米(nm)等级的极高精度丈量。
曩昔,AFM首要被用于丈量韩国首要显现厂商出产的大尺度面板样品的粗糙度、段差等参数。但是,本年初次为OLEDoS产线引入了AFM设备,逐步拓宽了在微型显现范畴的使用。
显现职业的有关人员表明:“LEDoS、OLEDoS等Micro Display的开发难度超出了开始的预期,因而对精细丈量的需求也在持续上升。”他们进一步指出:“关于LEDoS而言,要到达至少3000PPI的面板查看规范,选用AFM设备是不可或缺的。”
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